籽晶倾斜对大尺寸单晶生长稳定性的影响显著。为深入探究其作用机制，本研究采用静力学仿真方法，分析了负载下倾斜结构对应力分布的影响。通过模拟400 kg载荷条件下不同籽晶倾斜角对细颈中轴线及表面应力的作用，结果如图所示。

图5展示了细颈轴向应力分布特征。图5（a）为无倾斜状态下的应力分布，此时籽晶范围内应力仅与局部直径变化相关。图 5（b）和（c）表明，随着籽晶中轴线弯曲，表面应力值增大，且最大轴向应力位置随弯曲发生偏移。图5（d）进一步显示，在细颈直径较窄处后方（约20 mm位置），应力显著增加，表明负载偏心加剧了晶体内的轴向应力。对于此类力学问题，剪切应力通常是更关键的影响因素。图6呈现了细颈表面应力分布，揭示了籽晶倾斜程度对表面应力的影响。图6（a）显示，非倾斜状态下表面应力仅与细颈直径波动相关，其值远高于轴向应力，表明表面应力对结构可靠性具有更大影响。随着倾斜角增大，图6（b）和图6（c）中的表面应力显著升高，表明表面应力是导致失效的主要因素，且籽晶倾斜显著加剧了负载下的表面应力。

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为进一步量化分析，本文提取了图5和图6中的最大应力值，并绘制图7进行对比。结果显示，倾斜角引起的应力增幅主要体现在表面应力上。由此推测，当表面应力超过硅材料的临界值时，可能引发微裂纹，进而导致脆性滑移断裂，最终诱发掉棒事故。因此，脆性断裂倾向于在细颈小直径区域的表面起始。